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IEC 62415:2010 Semiconductor devices - Constant current electromigration test...

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sunjj 发表于 3 天前 | 显示全部楼层 |阅读模式 打印 上一主题 下一主题
标准
国内标准: -
国外标准: 国际标准 » IEC
发布时间: 2010
标准号: 62415
 
本帖最后由 sunjj 于 2021-9-15 09:39 编辑

IEC 62415:2010 Semiconductor devices - Constant current electromigration test
我知道答案 回答被采纳将会获得 已有4人回答
[发帖际遇]: sunjj 在论坛发帖时没有注意,被小偷偷去了 1 元 盟币. 幸运榜 / 衰神榜
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6yanmao 发表于 3 天前 | 显示全部楼层
 
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sunjj 发表于 3 天前 | 显示全部楼层
 
好像不全,只有6页,看目录至少应该有11页。
还有,是否有清晰可编辑的版本?
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 楼主| 6yanmao 发表于 3 天前 | 显示全部楼层
 
http://bbs.kxue.net/1263797.html?x=992245,不好意思之前没传完整
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