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感谢cnby 热心帮助!Radiation Hardness Assurance Testing of Microelectronic De

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yangj509 发表于 2017-8-27 10:06:19 | 显示全部楼层 |阅读模式 打印 上一主题 下一主题
 
【篇名】:Radiation Hardness Assurance Testing of Microelectronic Devices and Integrated Circuits: Test Guideline for Proton and Heavy Ion Single-Event Effects
【作者】:James R. Schwank      ;    Marty R. Shaneyfelt      ;    Paul E. Dodd
【期刊】:《   IEEE Transactions on Nuclear Science》
【年卷期页码】:Volume: 60, Issue: 3, June 2013
【全文链接】:http://ieeexplore.ieee.org/document/6530784/

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cnby 发表于 2017-8-27 10:25:45 | 显示全部楼层
 
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cnby 发表于 2017-8-27 10:26:18 | 显示全部楼层
 
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